巖石薄片鑒定來源:武漢中地大環境地質研究院    發布日期:2018-02-06    瀏覽量:

    普通薄片

    用于巖石礦物鑒定,包括礦物成分、含量、結構構造、巖性定名。

    用透射偏光顯微鏡進行觀察

    普通光片

    用于金屬礦物鑒定,包括礦物成分、含量、結構構造、礦石工藝。

    用反射偏光顯微鏡進行觀察

    砂薄片

    用于松散砂樣、選礦精礦-尾礦等,鑒定透明礦物成分,含量等。

    用透射偏光顯微鏡進行觀察

    砂光片

    用于松散砂樣、選礦精礦-尾礦等,鑒定金屬礦物成分,含量,統計解離度等。

    用反射偏光顯微鏡進行觀察

    光薄片

    用于觀察金屬礦物和透明礦物的成分、含量等,以及嵌布特征及相互關系。

    用透反兩用光源

    探針片

    觀察金屬礦物和透明礦物的成分,用于探針測試分析。

    用透射或反射光

    普通包體片

    觀察透明礦物中氣液包裹體的類型,進行包裹體鹽度、溫度的測定。

    用透射偏光顯微鏡進行觀察

    紅外包體片

    觀察不透明礦物中包裹體的類型,進行

    用紅外顯微鏡進行觀察


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